激光粒度分析儀是近二十幾年來快速發(fā)展起來的一種新型粒度分析儀，由于該儀器采用的計(jì)算機(jī)技術(shù)與激光原理相結(jié)合，充分發(fā)揮了各自的優(yōu)勢(shì)，使粉體的粒度分析變得快速方便，滿足了粉體行業(yè)粒度分析的基本需要。再加上儀器生產(chǎn)廠家廣泛的宣傳(儀器分析快速、，精度高，分析精度0.001μm)，因此該儀器得到快速發(fā)展和應(yīng)用。
今天咱們來了解下在激光粒度分析儀的使用過程中，會(huì)影響到設(shè)備測(cè)量結(jié)果的要素：
1、儀器光學(xué)設(shè)計(jì)影響粒度測(cè)試結(jié)果：不同廠家，以及不同型號(hào)的激光粒度儀產(chǎn)品，其設(shè)計(jì)往往不同，例如不同的光學(xué)設(shè)計(jì)（例如直線式光路設(shè)計(jì)和折疊式光路設(shè)計(jì)，透鏡后/前傅立葉變換，激光光束大小等），不同尺寸、焦距規(guī)格的傅立葉透鏡，不同的探測(cè)器數(shù)量和分布以及其靈敏度和噪音水平，不同規(guī)格的光學(xué)部件等都會(huì)造成相同顆粒所得到的光能分布的差異。同樣的道理，如果測(cè)量儀器光路或光學(xué)器件出現(xiàn)了狀態(tài)變化也會(huì)引起結(jié)果的偏差。
2、光能分布反演算法影響粒度測(cè)試結(jié)果：在實(shí)際測(cè)試中，儀器獲得信號(hào)是復(fù)合的，即一次探測(cè)獲取信號(hào)是多個(gè)顆粒信號(hào)疊加的結(jié)果?；诓煌筋w粒光能分布特性，用特定算法將復(fù)合信號(hào)拆分開來，得到所檢測(cè)多個(gè)顆粒的粒徑。由于不同探測(cè)器信號(hào)差別巨大（大顆粒散射光強(qiáng)度遠(yuǎn)大于小顆粒），且有光源不穩(wěn)定，背景噪音等因素的影響，對(duì)軟件算法的要求也非常高。因?yàn)椴煌吞?hào)光學(xué)設(shè)計(jì)和探測(cè)器分布是不同的，因此軟件算法也必然不同。在反演計(jì)算過程中會(huì)出現(xiàn)結(jié)果的不同。
3、測(cè)試條件的差異影響粒度測(cè)試結(jié)果：在實(shí)際粒度儀測(cè)試過程中，存在例如取樣代表性、儀器對(duì)中調(diào)節(jié)、光學(xué)參數(shù)及樣品循環(huán)參數(shù)設(shè)定，分散介質(zhì)、分散劑、穩(wěn)定劑的選擇和質(zhì)量，樣品處理步驟等多種人為因素，以及溫度變化，電源穩(wěn)定性，震動(dòng)等客觀因素，都會(huì)造成測(cè)量結(jié)果的差異。
希望上述內(nèi)容能夠幫助大家更好的了解本分析儀。
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